高頻SU/RM水浸外殼探頭

• 性熔融石英延遲塊和光學質量的磨制透鏡，可使聲束的校直及聚焦達到很高的精度

• 不銹鋼外殼帶有一個無源平直型UHF（SU）接口和一個有源直角型Microdot（RM）接口

• 大外殼可使用較大的延遲塊，并減少延遲塊的回響和噪音

• 高阻尼探頭加上延遲塊可以提供出色的近場分辨率

• 更高的探頭頻率可提高分辨率

• 直接接觸法的使用提高了測量薄材料及發(fā)現(xiàn)細小缺陷的能力

• 提供弧面外形，以適用于曲面工件

應用：

• 精確測厚

• 垂直聲束缺陷探測

• 對接觸區(qū)域有限的工件進行檢測

• 可更換式延遲塊探頭

• 每個探頭的標準配置都包含一個延遲塊和固定環(huán)

• 提供高溫延遲塊和干耦合延遲塊

• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑

延遲塊探頭

標稱晶片尺寸標準 
延遲塊高溫干耦合 
延遲塊備用 
固定 
環(huán)彈簧 
加載 
支架最高350°F 
(175°C)最高500°F 
(260°C)最高900°F 
(480°C)英寸毫米0.5013DLH-2DLHT-201DLHT-2DLHT-2GDLS-2DRR-221300.256DLH-1DLHT-101DLHT-1DLHT-1GDLS-1DRR-12127 & DRR-1H0.1253DLH-3DLHT-301DLHT-3DLHT-3GDLS-3DRR-32133 & DRR-3H